ООО "СПЕКС-ТиАйАй Рус"     |  123001, г.Москва, ул. Большая Садовая, 5   |      Тел.: +7 (495) 920-90-05     |     E-mail: info@specs-tii.ru

НАСТОЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР

PROTO AXRD BENCHTOP

Настольный дифрактометр Proto AXRD прост в эксплуатации и предоставляет надежные результаты измерений со скоростью сопоставимой с лабораторными полноразмерными дифактометрами. Порошковый дифрактометр PROTO AXRD является полноценной заменой дорогостоящим лабораторным порошковым дифрактометрам. Для работы AXRD не требуется внешнего подвода охлаждающей жидкости или использования рециркулятора, так как система охлаждения встроена в корпус прибора. Благодаря разрешению пиков на полуширине<0.05° 2θ и угловой точности < ± 0.02° Δ2θ на полном угловом диапазоне, AXRD обеспечивает необходимый уровень производительности для даже самых сложных и требовательных дифракционных исследований.

В настольном дифрактометре AXRD есть все необходимое для определения фаз, количественного фазового анализа, определения процента кристалличности, размера кристаллитов и напряжений, анализа методом Ритвельда, характеристики тонких пленок и покрытий, а также анализа структуры. Обладая несколькими типами предметных столов и держателей, мощному и многофункциональному программному обеспечению и широкому набору баз данных, дифрактометр AXRD обеспечивает необходимую для широкого спектра измерений гибкость и функционал.

Особенности:
  • Высокая скорость, сопоставимая с полноразмерными дифрактометрами
  • Великолепное разрешение
  • Интегрированная система охлаждения
  • Наклонная рентгеновская трубка
  • Широкий выбор щелей и держателей для различных экспериментов
  • Безопасность работы за счет панели индикаторов и звуковой сигнализации
Применение:

В настольном дифрактометре AXRD есть все необходимое для определения фаз, количественного фазового анализа, определения процента кристалличности, размера кристаллитов и напряжений, анализа методом Ритвельда, характеристики тонких пленок и покрытий, а также анализа структуры.

Благодаря большому набору предметных столов и держателей, мощному многофункциональному программному обеспечению и широкому набору баз данных, дифрактометр AXRD обеспечивает необходимую для самого широкого спектра измерений гибкость и функционал

  • Фазовый анализ
  • Анализ методом Ритвельда
  • Размер кристаллитов и напряжения
  • Тонкие пленки и покрытия
  • Количественный анализ
  • Процент кристалличности
  • Структурный анализ
Видео о PROTO AXRD Benchtop
Технические характеристики:
Дополнительные опции:
  • DECTRIS MYTHEN2 R 1D
    Высокоскоростные рентгеновские детекторы


    - 640 канальный высокоскоростной линейный детектор
    - Скорость получения данных до 100 раз быстрее, чем в сцинтилляционном детекторе
    - Площадь сенсора 32 х 8 мм 
    - Скорость счета до 10^9 имп/с 
    - Высокое значение сигнал/шум и высокий динамический диапазон
    - Различные модели электронных приемной щелей
    - 0D и 1D модели

  • PROTO SPD - кремниевый точечный детектор

    - Одноканальный точечный детектор
    - Скорость счета рентгеновского излучения 10^6 имп/с
    - Разрешение по энергии 200 эВ
    - Устраняет необходимость в монохроматоре или Kβ фильтре
    - Сбор данных с использованием Kα1,2 или Kβ спектров
    - Сбор данных рентгеновской флуоресценции для химической идентификации образца и лучших результатов поиска/совпадений

  • Программный пакет XRDWIN PD

    Программное обеспечение, основанное на принципе "все в одном", позволяет проводить сбор данных и анализ порошковых проб и является идеальным решением для основополагающих количественного и качественного методов анализа. 

  • Программный пакет JADE

    Для продвинутого анализа Ваших дифракционных картин мы предлагаем программное обеспечение MDI JADE 2010. Для удобства пользователя программа интегрируется с XRDWIN PD, чтобы обеспечить прямой доступ к передовым инструментам анализа, таким как Ритвельд и т.д.