FE-LEEM P90 представляет собой следующее поколение микроскопа на медленных электронах с высочайшим для динамических LEEM-экспериментов разрешением (<5 нм). Основанный на конструкции д-ра Р. Тромпа, этот прибор позволяет наблюдать процессы на поверхности нанометрового масштаба в реальном времени.
Основная цель при разработке FE-LEEM P90 заключалась в достижении очень высокого разрешения при минимальном количестве электронно- оптических элементов. С помощью сложного энергетического фильтра можно
производить измерения с разрешением по энергии вплоть до 250 мэВ при минимальном пространственном разрешении прибора. Прибор может быть дополнен коррекцией аберраций. Наилучшее достижимое разрешение для FE-LEEM P90 с корректором <2 нм.
- Разрешение 5 нм
- Магнитный дефлектор (90°)
- Холодный эмиттер
- Энергетический фильтр (опция)
- Быстрое переключение между режимами LEED и LEEM
- Быстрая замена образца
- Фокусированный УФ источник UVS 300
- Разрешение <2 нм с корректором аберраций (опция)
- Удобная регулировка всей электронно-оптической системы