ООО "СПЕКС-ТиАйАй Рус"     |  123001, г.Москва, ул. Большая Садовая, 5   |      Тел.: +7 (495) 920-90-05     |     E-mail: info@specs-tii.ru

УЛЬТРАВЫСОКОВАКУУМНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С УСИЛЕННЫМ НАКОНЕЧНИКОМ USM1400-LT TERS

Ультравысоковакуумный (UHV) сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ)
с функцией спектроскопии комбинационного рассеяния с усилением
наконечника (TERS) предназначен для проведения измерений с высоким
(< 10 нм) пространственным разрешением, а благодаря Ag усиленному
наконечнику зонда позволяет проводить топографию и картирование
поверхностей с разрешением одномолекулярного уровня в условиях
низких температур (LT).
Особенности:
  • Нанометрическое разрешение рамановского изображения (<10 нм)
  • Элементы оптической системы гарантируют оптимальную фокусировку и высокую интенсивность сигналов в условиях LT UHV
  • Высокая степень усиления TERS благодаря Ag наконечнику
  • Интегрированный интерфейс Nanofinder FLEX 2™ делает управление системой легким и эффективным
  • Диапазон температур образца от 5 К до КТ и ультравысокий вакуум гарантируют высокую стабильность измерений при высокой интенсивности излучения, предотвращают ухудшение чувствительности органических образцов
  • Возможно локальное осаждение на чистой и холодной подложке благодаря добавлению органических и неорганических источников осаждения
Применение:
  • Идентификация дефектов кристаллической решетки
  • UHV осаждение и топографический анализ
  • Изучение отдельных молекул и их связей
  • Высокоточное исследования нанотрубок, графенов, тонких пленок