Участие в Международной конференции
"Сканирующая зондовая микроскопия - 2019"
Компания SPECS-TII Rus приняла участие в Международной конференции "Сканирующая зондовая микроскопия - 2019", которая проходила 25-28 августа 2019 в г. Екатеринбурге.
Конференция охватывает широкий спектр тем, связанных с современными нанотехнологиями и функциональной визуализацией наноструктурированных материалов с помощью различных режимов сканирующей зондовой микроскопии, а также изучением ферроиков.
Основные темы конференции:
-
SPM, PFM, MFM, KPFM, SNOM, ESM, SEM и связанных с ними методы
-
TERS технология
-
Зондовая литография и наноиндентирование
-
Биосовместимые и органические материалы
-
Мультиферроидные явления и магнитоэлектрическая связь
-
Интерфейсная и доменная инженерия
-
Ферроэлектрики, пьезоэлектрики и ионные проводники
-
1D и 2D наноструктурированные материалы
-
Теория, моделирование и обработка данных
На конференции были представлены сканирующие зондовые микроскопы компании UNISOKU Co., Ltd, подробнее о преимуществах которых в ходе конференции рассказал директор по развитию бизнеса SPECS-TII Rus Горностаев Дмитрий.