Участие в Международной конференции

"Сканирующая зондовая микроскопия - 2019"

Компания SPECS-TII Rus приняла участие в Международной конференции "Сканирующая зондовая микроскопия - 2019", которая проходила 25-28 августа 2019 в г. Екатеринбурге. 

Конференция охватывает широкий спектр тем, связанных с современными нанотехнологиями и функциональной визуализацией наноструктурированных материалов с помощью различных режимов сканирующей зондовой микроскопии, а также изучением ферроиков.

Основные темы конференции:

​

• SPM, PFM, MFM, KPFM, SNOM, ESM, SEM и связанных с ними методы

• TERS технология

• Зондовая литография и наноиндентирование

• Биосовместимые и органические материалы

• Мультиферроидные явления и магнитоэлектрическая связь

• Интерфейсная и доменная инженерия 

• Ферроэлектрики, пьезоэлектрики и ионные проводники

• 1D и 2D наноструктурированные материалы

• Теория, моделирование и обработка данных

Подробнее о конференции >

На конференции были представлены сканирующие зондовые микроскопы компании UNISOKU Co., Ltd, подробнее о преимуществах которых в ходе конференции рассказал директор по развитию бизнеса SPECS-TII Rus Горностаев Дмитрий.